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日本精工X射線管廠家產品品種多樣，有多種靶材可供選擇，非常適用于：測厚、RoHS檢測、材料分析、密度測量、元素分析、X光衍射、熒光分析、X射線檢測、X射線光譜。X射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用
膜厚測試儀測量精度高、穩定性好，測量結果至μin。具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節約電鍍成本
氣相色譜質譜聯用儀GCMS采用低噪聲檢測單元，高靈敏度離子源，理想的真空排氣系統。分析儀器在如何通過提高常規分析效率、減少消耗電量從而降低運行成本、保護地球環境。配備ASSP功能,提高高速掃描時的靈敏
溫度控制系統用于控制和測量色譜柱、檢測器、氣化室溫度，是氣相色譜儀的重要組成部分。氣相色譜質譜聯用儀GCMS分為兩類：一類是氣固色譜儀，另一類是氣液分配色譜儀。這兩類色譜儀所分離的固定相不同，但儀器的
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供求商機inspeXioSMX-90CTPlus是操作簡單、實驗速度快、結構緊湊，“無論是誰”（對操作人員要求低）都能簡單上手的臺式X線CT設備，這款機器的特點是：不需要校準使得操作步
EDX-LE能量色散X射線分析波長法是因其激發出的熒光足夠強，進到儀器中用來分析的光譜是單一元素（“過濾”了不需測的元素），不含其它元素的光譜，所以測量數據很準確。這種儀器的靈
EDX能量色散X射線分析是將X射線激發被測所有元素的熒光簡單過濾后，全部進入到檢測器中，利用儀器和軟件來分出其中的光譜。如測的為元素周期表中相鄰的兩個元素，會因光譜重疊而產生測量誤差。能量色散型儀器最
EDX-LE能量色散X射線分析是一款于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維
EDX-LE能量色散X射線分析是一款于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維
液質聯用儀是實現樣品液相分離并檢測過程的儀器，無論液質聯用儀的類型如何變化，構成質譜系統的5個基本組成部分皆是相同的，它們是接口、電離源、真空系統、檢測系統及數據處理系統。電離源是將引入的樣品轉化為正
光具有與其波長成反比的一定量的能量。因此，較短波長的光攜帶更多的能量，而較長波長的光攜帶較少的能量。需要特定量的能量來將物質中的電子提升到更高的能量狀態，我們可以將其檢測為吸收。物質中不同鍵合環境中的
EDX-LE能量色散X射線分析—般指X射線熒光光譜分析，運用初級X射線光子或其他微觀離子激起待測物質中的原子，使之發生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研討的辦法。按激起、色散和
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